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YXLON X-ray
浏览: 发布日期:2017-11-20
                                                                         
产品特性参数:
简单易用的设备,具备最高缺陷分辨率及最大几何放大倍数
即使探测器左右倾斜70°,放大倍数几乎没有变化
最大5轴,您可以从任何角度分析样品
独有的AIM技术,在倾斜探测器及旋转载物平台时,确保被检测点在图像中心。
高分辨率数字平板探测器,使最小缺陷检测能力< 1微米
基于革新性的教学模式,获得创新性的全自动检测流程)
革新性的64位软件,可运行于Windows 7操作平台下

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